Аналитическое и технологическое оборудование

При реализации проекта по созданию НОЦ "Нанотехнологии" в рамках национальной нанотехнологической сети в соответствии с федеральной целевой программой "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2010 годы" было закуплено новое аналитическое и технологическое оборудование, оборудование для пробоподготовки, а также различные приставки для ранее приобретенного оборудования:

Растровый электронный микроскоп Carl Zeiss EVO50

Производитель: Carl Zeiss (Германия), 2007

Назначение: исследование поверхности металлических изделий
Область применения: выяснение причин разрушения металлических материалов, оценка их структуры, дефектности и химического состава
Особенности и возможности: прибор снабжен микроанализаторами EDS X-Act и INCA Wave 700 (Oxford Instruments), позволяющими определять химический состав объектов размером более 1 мкм. Система анализа дифракции отраженных электронов HKL 5 CHANNEL 5 EBSD позволяет проводить индексирование фаз как с высокой, так и с низкой симметрией

Характеристики:

ускоряющее напряжение – от 0,2 до 30 кВ
максимальное разрешение – 3 нм
детекторы вторичных и обратнорассеянных электронов
работа в низком вакууме
максимальный размер образца – 200 х 200 х 100 мм

Оптический микроскоп Carl Zeiss Axio Observer A1m и Axio Observer Z1m

Производитель: Carl Zeiss (Германия), 2007 и 2010
Назначение: исследование поверхности изделий
Область применения: оценка структуры и дефектности материалов

Особенности и возможности:

работа в светлом и темном поле
работа в режиме DIC
модули для автоматического определения размера зерна и содержания второй фазы

Характеристики:

диапазон увеличений – от 25 до 1 500 крат
фотокамера AxioCam MRc – 5,5 Мп

Инструментальный микроскоп MM-400

Производитель: Nikon (Япония)
Назначение: измерение геометрических параметров образцов
Область применения: оценка механических свойств материалов

Характеристики:

диапазон увеличений – от 10 до 100 крат

Просвечивающий электронный микроскоп FEI Tecnai 20 G2 TWIN

Производитель: FEI (Нидерланды), 2007
Назначение: изучение внутренней структуры металлических и неметаллических материалов

Особенности и возможности:

разрешающая способность по точкам режим ПЭМ – не хуже 0,27 нм
разрешающая способность по линиям режим ПЭМ – не хуже 0,14 нм
микроанализатор EDAX

Характеристики: ускоряющее напряжение – от 20 до 200 кВ

Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA

Производитель: Thermo Electron SA (Швейцария), 2008
Назначение: определение фазового состава твердых, жидких и порошковых материалов, анализ внутренних напряжений металлических материалов

Особенности и возможности:

обнаружение и идентификация фаз с объемной долей свыше 0,1 %
локальный анализ области диаметром 1 мм
приставка для высокотемпературного анализа
приставка для анализа текстурированных материалов

Характеристики:

излучение – Cu
мощность трубки – 2,2 кВт
энергодисперсионный детектор Si(Li)
максимальный угол 2θ = 164о, θ-θ геометрия съемки

Микротвердомер для проведения испытаний по методу Виккерса Wolpert Group 402MVD

Производитель: Wolpert Group (Великобритания), 2008
Назначение: проведение механических испытаний материалов на микротвердость

Особенности и возможности:

измерение твердости в автоматическом и ручном режиме по заданной программе перемещения индентора
автоматическая обработка результатов измерений

Характеристики: диапазон измерительных нагрузок – от 0,01 до 2 кг

DIL 402 C NETZSCH дилатометр

Производитель: NETZSCH (Германия), 2011
Назначение: измерение расширения или сжатия материала, происходящих в образце в условиях программируемого воздействия температуры.

Особенности и возможности:

Линейное термическое расширение
Температуры фазовых переходов
Температуры спекания
Стадии усадки
Температуры переходов стеклования
Дилатометрические точки размягчения
Изменение плотности
Кинетика спекания
Энергетические эффекты

Характеристики:

Температурный интервал:

Термопара WRe от 25 ⁰С до 2000 ⁰С
Термопара Pt-Pt/Rh от 25 ⁰С до 1680 ⁰С
Пирометр от 25 ⁰С до 2400 ⁰С
Режим защитной трубки от 25 ⁰С до 1680⁰С

Держатель образца графит, Al₂O₃
Длина образца до 25 мм
Диаметр образца до 6 мм
Скорость нагревания 0,1… 50 К/мин
Атмосфера инертный газ/вакуум

Регулируемый прокатный стан

Производитель: ООО "Стэп", Россия, 2011
Назначение: обработка давлением методом прокатки

Характеристики:

Диаметр рабочих валков - 300 мм
Радиальная регулировка валков - 40 мм
Мощность 30 кВт

3D принтер Zbuilder Ultra

Производитель: Zbuilder, 2011
Назначение: изготовление прототипа изделия

Особенности и возможности:

прототипы изделий для оценки собираемости и дизайна;
мастер-модели в литейном производстве (для литья по выплавляемым моделям);
создание моделей по снимкам МРТ;
художественные изделия и сувенирную продукцию из пластика
работает с форматом STL

Характеристики:

Разрешение по осям Х и У 138 мкм;
Разрешение по оси Z 50 мкм;
Точность +/- 0,2 мм;
Скорость печати 12,7 мм/час;
Максимальные габариты изделия 260*160*190 мм

Характеристики используемого материала:

Предел прочности 43 МПа;
Удлинение при разрыве 4,5 %;
Предел прочности при изгибе 60,2 МПа;
Модуль упругости при изгибе 1850 МПа;
Температура термической деформации: 55,7 °С - 0,45 МПа; 46,8 °С 1,82 МПа;
Твердость 86 единиц по Шору.

Оборудование для пробоподготовки

Назначение: подготовка объектов для структурных исследований на световых и электронных микроскопах

Станок отрезной напольный Exotom-150 (Struers, Дания)
Шлифовально-полировальная установка Ecomet Pro (Buehler, США)
Напылительная установка для подготовки образцов для исследования на электронных микроскопах Q 150 TES (Quorum Technologies, Великобритания)
Станок полировальный для подготовки образцов для электронного микроскопа 656 (Gatan, США)
Устройство ионного травления для подготовки образцов для электронного микроскопа PIPS (Gatan, США)
Установка для получения жидкого азота

Комплекс оборудования для изучения механических характеристик полимерных материалов и керамики
Автоматизированный твердомер по Шору 902B (Instron, Великобритания)
Маятниковый копер (Instron, Великобритания)