Новости
Прошла защита выпускных квалификационных работ по направлениям «Фотоника и оптоинформатика» и «Оптотехника»
Были защищены работы бакалавров по направлениям «Оптотехника» и «Фотоника и оптоинформатика», а также магистров по направлению «Оптотехника». Представленные работы получили оценку Хорошо и Отлично. Поздравляем выпускников с успешной защитой выпускных квалификационных работ!
Представленные на защиту работы были выполнены студентами в Институте автоматики и электрометрии (ИАиЭ СО РАН), Конструкторско-технологическом институте научного приборостроения (КТИ НП СО РАН), Институте лазерной физики (ИЛФ СО РАН), Институте неорганической химии (ИНХ СО РАН), Новосибирском институте органической химии (НИОХ СО РАН) и в других институтах Новосибирского Академгородка, а также на Новосибирском приборостроительном заводе. О широте тем, представленных на защиту работ, сожно судить по их названиям:
Разработка источника перестраиваемого излучения для задач спектроскопии углекислого газ.
Методы контроля нагрева графитовой кюветы в электротермическом атомизаторе атомно-абсорбционного спектрометра.
Исследование радиального способа наблюдения источника возбуждения спектров на основе азотной микроволновой плазмы.
Терагерцово - оптическое преобразование излучения с длиной волны 1,5 мкм в кристаллах GaSe:S.
Исследование оптических свойств кристаллов тетрабората лития для задач генерации терагерцового излучения.
Реакции пирилоцианинового красителя с боратным комплексом антибиотика амикацина и бычьим сывороточным альбумином.
Изучение влияния параметров резонатора и активной среды на спектральный состав излучения малогабаритного СО2 лазера.
Синтез дифракционной оптики для ИК-диапазона на основе халькогенидных стёкол.
Исследование динамической голографической решётки в фотополимерных материалах.
Разработка технологии регистрации голографических решеток высокого порядка дифракции.
Исследование и оптимизация оптической схемы, конструкции лазерного имитатора стрельбы до заданных параметров.
Диэлектрические свойства сегнетоэлектрика Pb5Ge3O11 в терагерцовом спектральном диапазоне при температуре 77К.
Получение токопроводящих микроструктур на основе акриламидных производных полифторхалконов на подложках анодированного алюминия.
Исследование характеристик атомно-эмиссионного спектрометра высокого разрешения.
Стабилизация интерференционного поля при записи голографических решеток в халькогенидных слоях.
Модернизация эллипсометра ЛЭФ-2 для обеспечения возможности спектральных измерений.
Оптические свойства новой эпоксидной матрицы для «толстых» свободно-радикальных фотополимерных материалов.
Повышение качества осветительной системы интерференционного микроскопа.
Определение эффективной длины когерентности в интерферометре частично-когерентного света.
Спектрофотометрические измерения оптических свойств тонких пленок с использованием спектрометра «Колибри-2» и волоконно-оптических приставок.
Фотограф: Кафедра ОИТ