Исследование методами электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии тонкой структуры нанотрубок из оксида вольфрама, получаемых методом эпитаксии в присутствии наноразмерных частиц меди
Руководитель темы: ТЕРЕНТЬЕВ Д. С.
Описание

2011

Исследование методами электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии тонкой структуры нанотрубок из оксида вольфрама, получаемых методом эпитаксии в присутствии наноразмерных частиц меди
Руководитель темы: ТЕРЕНТЬЕВ Д. С.
Описание

Наверх